產(chǎn)品中心
PRODUCTS CNTER
當(dāng)前位置：首頁
產(chǎn)品中心光電探測(cè)器硅探測(cè)器硅探測(cè)器
產(chǎn)品簡介
硅探測(cè)器? 室溫型探測(cè)器? 使用范圍：200-1100nm? 兩種型號(hào)的探測(cè)器室的外觀相同，其中：? DT-Si200型內(nèi)裝進(jìn)口紫敏硅光電探測(cè)器? DT-Si300型內(nèi)裝進(jìn)口藍(lán)光增強(qiáng)型硅光電探測(cè)器
產(chǎn)品分類
相關(guān)文章
硅探測(cè)器
• 室溫型探測(cè)器
• 使用范圍：200-1100nm
• 兩種型號(hào)的探測(cè)器室的外觀相同，其中：
• DT-Si200型內(nèi)裝進(jìn)口紫敏硅光電探測(cè)器
• DT-Si300型內(nèi)裝進(jìn)口藍(lán)光增強(qiáng)型硅光電探測(cè)器
技術(shù)指標(biāo)＼型號(hào)名稱 | DT-Si200 紫敏硅探測(cè)器 | DT-Si300 藍(lán)光增強(qiáng)型硅探測(cè)器 |
| 進(jìn)口紫外增強(qiáng)型 | 進(jìn)口藍(lán)光增強(qiáng)型 |
有效接收面積(mm2) | 100(Φ11.28) | 100(Φ11.28) |
波長使用范圍(nm) | 200-1100 | 350-1100 |
峰值波長(nm)，典型值 | 820nm | 970nm |
峰值波長響應(yīng)度(A/W) | 0.52 | 0.60(>0.55) |
典型波長的響應(yīng)度(A/W) | 0.14(>0.09)@254nm | 0.20(>0.15)@410nm |
響應(yīng)時(shí)間(μs) | 5.9 | 2 |
工作溫度范圍(℃) | -10～+60 | -10～+60 |
儲(chǔ)存溫度范圍(℃) | -20～+70 | -20～+70 |
分流電阻RSH(MΩ) | 10(>5) | (>10) |
等效噪聲功率NEP(W/√Hz) | 4.5×10-13 | 2.0×10-13 |
*大操作電流(mA@0V bias) | 0.1 | 10.0 |
結(jié)電容(pf@0V bias) | 4500 | 8800 |
信號(hào)輸出模式 | 電流 | 電流 |
輸出信號(hào)極性 | 正（P） | 正（P） |
硅探測(cè)器
公司郵箱： qgao@buybm.com
服務(wù)熱線： 021-61052039
公司地址： 上海市浦東新區(qū)疊橋路456弄?jiǎng)?chuàng)研智造C7區(qū)301室
Copyright © 2025 上海波銘科學(xué)儀器有限公司 AlL Rights Reserved
備案號(hào)：滬ICP備19020138號(hào)-2
技術(shù)支持：化工儀器網(wǎng) 管理登錄 sitemap.xml
關(guān)于我們
公司簡介 企業(yè)文化 榮譽(yù)資質(zhì) 聯(lián)系我們快速通道
產(chǎn)品中心 新聞中心 技術(shù)文章 在線留言推薦產(chǎn)品
OPTM 系列顯微分光膜厚儀 半導(dǎo)體晶圓缺陷檢測(cè)儀 ELSZ-2000系列ZETA電位 · 粒徑 · 分子量測(cè)試系統(tǒng) RU120便攜式拉曼光譜儀
上一個(gè)：
返回列表