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產(chǎn)品中心光譜系統(tǒng)顯微缺陷膜厚膜厚測量系統(tǒng) FE-3700/5700
產(chǎn)品簡介
可以高速、高精度地測量各種玻璃基板上各種薄膜的膜厚和光學常數(shù)。除了支持包括下一代尺寸在內(nèi)的大型玻璃基板外，它還支持 LCD、TFT 和有機 EL。
產(chǎn)品分類
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上海波銘科學儀器有限公司主要提供光譜光電集成系統(tǒng)、晶萃光學機械和光學平臺、激光器、Edmund 光學元件、Newport 產(chǎn)品、濱松光電探測器、卓立漢光熒光拉曼光譜儀、是德 Keysight 電學測試系統(tǒng)、大塚 Otsuka 膜厚儀、鑫圖科研級相機、Semilab 半導體測試設備及高低溫探針臺系統(tǒng)。經(jīng)過多年的發(fā)展，上海波銘科學儀器有限公司在市場上已取得了一定的地位。我們的產(chǎn)品和服務在行業(yè)內(nèi)具有較高的知zhi名度和美譽度，客戶遍布全國。我們將繼續(xù)努力，不斷提升市場地位和影響力。
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