顯微缺陷膜厚_第(5)頁-上海波銘科學(xué)儀器有限公司

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PRODUCT CLASSIFICATION

光譜系統(tǒng)

顯微缺陷膜厚半導(dǎo)體晶圓缺陷檢測儀高光譜測試系統(tǒng) 瞬態(tài)吸收系統(tǒng) 太陽能電池量子效率太陽光模擬器IV系統(tǒng) 顯微光電流成像系統(tǒng) 探測器光響應(yīng)度系統(tǒng) 光譜變溫附件探針臺(tái) 拉曼SERS增強(qiáng)試劑顯微熒光系統(tǒng) 組合熒光系統(tǒng) 鏡頭透過率測試系統(tǒng) 漫反射率測試系統(tǒng) 反射、吸收率系統(tǒng) 成像亮度計(jì) 標(biāo)準(zhǔn)燈參考輻射定標(biāo) 電致發(fā)光系統(tǒng) 常規(guī)發(fā)射光譜系統(tǒng) 共聚焦拉曼光譜儀

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中階梯光譜儀具有如下特點(diǎn)

分光輻射照度測量系統(tǒng)

該檢測器是一種高性能的分光光度計(jì) ，在光源測量、反射/透射測量、過程測量等方面取得了多項(xiàng)成果。覆蓋從紫外線到可見光和可見光到紅外線的寬波長范圍

更新時(shí)間：2025-01-23

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分光干涉式晶圓膜厚儀 SF-3

●非接觸式、非破壞性光學(xué)式膜厚檢測 ●采用分光干涉法實(shí)現(xiàn)高度檢測再現(xiàn)性 ●可進(jìn)行高速的即時(shí)研磨檢測 ●可穿越保護(hù)膜、觀景窗等中間層的檢測 ●可對應(yīng)長工作距離、且容易安裝于產(chǎn)線或者設(shè)備中 ●體積小、省空間、設(shè)備安裝簡易 ●可對應(yīng)線上檢測的外部信號(hào)觸發(fā)需求 ●采用最適shi合膜厚檢測的獨(dú)自解析演算法。(已取得專zhuan利) ●可自動(dòng)進(jìn)行膜厚分布制圖(選配項(xiàng)目)

更新時(shí)間：2025-01-23

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光波場三維顯微鏡 MINUK

MINUK是一種可以評估納米量級的透明異物和缺陷的設(shè)備，可以單次獲取高度方向的信息，并且可以無損、非接觸、非侵入性地進(jìn)行測量。此外，還可以高速掃描任何表面并確定測量位置，而無需對焦。

更新時(shí)間：2025-01-23

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ZETA電位 · 粒徑測試系統(tǒng)·ELSZneoSE

本產(chǎn)品為粒徑及zeta電位測量專用裝置。ELSZneoSE選擇了ELSZneo的新功能。根據(jù)用途，可以根據(jù)需要定制任意數(shù)量的必要功能。

更新時(shí)間：2025-01-23

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ZETA電位 · 粒徑測試系統(tǒng)·ELSEneoSE

● 可根據(jù)用途增加功能(分子量測定、粒子濃度測定、微流變測定、凝膠網(wǎng)眼結(jié)構(gòu)分析、粒徑多角度測定) ● 可以用標(biāo)準(zhǔn)流動(dòng)池連續(xù)測量粒徑和zeta電位 ● 可以測量從稀薄到濃厚溶液(~40% )的廣泛濃度范圍的粒徑zeta電位 ● 可以在高鹽濃度下測定平板狀樣品的zeta電位 ● 可在0~90℃的廣闊溫度范圍內(nèi)進(jìn)行測量 ● 通過溫度梯度功能，可對蛋白質(zhì)等的變性及相變溫度進(jìn)行解析

更新時(shí)間：2025-01-23

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ZETA電位 · 粒徑 · 分子量測試系統(tǒng)·ELSZneo

ELSZ series的最zu高級機(jī)型，除了在稀薄溶液~濃厚溶液中進(jìn)行zeta電位（Zeta Potential，ζ-電位）和粒徑測定之外，還能進(jìn)行分子量測定的裝置。作為新的功能，為了提高粒度分布的分離能力，采用了多角度測定。另外，也可實(shí)現(xiàn)測量粒子濃度測定、微流變學(xué)測定、凝膠的網(wǎng)狀結(jié)構(gòu)分析。全新的zeta電位平板固體樣品池，通過新開發(fā)的對應(yīng)高鹽濃度的涂層，可以在生理鹽水等高鹽濃度環(huán)境下進(jìn)行測量。

更新時(shí)間：2025-01-23

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