顯微缺陷膜厚_第(2)頁-上海波銘科學(xué)儀器有限公司

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光譜系統(tǒng)

顯微缺陷膜厚半導(dǎo)體晶圓缺陷檢測儀高光譜測試系統(tǒng) 瞬態(tài)吸收系統(tǒng) 太陽能電池量子效率太陽光模擬器IV系統(tǒng) 顯微光電流成像系統(tǒng) 探測器光響應(yīng)度系統(tǒng) 光譜變溫附件探針臺拉曼SERS增強試劑顯微熒光系統(tǒng) 組合熒光系統(tǒng) 鏡頭透過率測試系統(tǒng) 漫反射率測試系統(tǒng) 反射、吸收率系統(tǒng) 成像亮度計標準燈參考輻射定標電致發(fā)光系統(tǒng) 常規(guī)發(fā)射光譜系統(tǒng) 共聚焦拉曼光譜儀

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膜厚量測儀 FE-300

薄膜到厚膜的測量范圍 UV~NIR光譜分析高性能的低價光學(xué)薄膜量測儀藉由絕對反射率光譜分析膜厚完整繼承FE-3000高gao端機種90%的強大功能無復(fù)雜設(shè)定，操作簡單

更新時間：2025-01-23

產(chǎn)品型號：

瀏覽量：515
膜厚測量系統(tǒng) FE-3700/5700

可以高速、高精度地測量各種玻璃基板上各種薄膜的膜厚和光學(xué)常數(shù)。除了支持包括下一代尺寸在內(nèi)的大型玻璃基板外，它還支持 LCD、TFT 和有機 EL。

更新時間：2025-01-23

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線掃描膜厚儀（離線型）

●全面高速高精度進行薄膜等面內(nèi)膜厚不均一性檢測 ●硬件&軟件均為創(chuàng)新設(shè)計 ●作為專業(yè)膜厚測定廠商，提供多種支援 ●實現(xiàn)高精度測量（已取得專zhuan利） ●實現(xiàn)高速測量（500萬點以上/分）

更新時間：2025-01-23

產(chǎn)品型號：

瀏覽量：530
線掃描膜厚儀（在線型）

●采用線掃描方式檢測整面薄膜 ●硬件&軟件均為創(chuàng)新設(shè)計 ●作為專業(yè)膜厚測定廠商，提供多種支援 ●實現(xiàn)高精度測量（已獲取專zhuan利） ●實現(xiàn)高速測量 ●不受偏差影響 ●可對應(yīng)寬幅樣品（TD方向最大可測量10m）

更新時間：2025-01-23

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紫外分光配光測量系統(tǒng)

●通過分光光度分布對紫外光進行高精度測量 ●從配光上評估紫外光的最大發(fā)光強度、光束開度、光束光通量 ●涵蓋從紫外線到可見光的波長范圍 ●支持從 LED 芯片到模塊和應(yīng)用產(chǎn)品的廣泛樣品 ●用軟件批量控制電源和測量儀器

更新時間：2025-01-23

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紫外分光輻射照度測量系統(tǒng) New

●該檢測器是一種高性能的分光光度計，在光源測量、反射/透射測量、過程測量等方面取得了多項成果。 ●覆蓋從紫外線到可見光的寬波長范圍 ●帶軟件的樣品照明電源，測量儀器批量控制 ●LIV測量，脈沖點測量，樣品溫控測量 ●設(shè)備校準的標準燈由我們自己的部門提供，并由 JCSS 校準公司注冊。

更新時間：2025-01-23

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